VNA7000系列主机频段覆盖至67 GHz，并支持扩展至110 GHz。作为毫米波器件测试的关键窗口，W波段集中了波导耦合器、毫米波放大器及卫星通信前端模块等核心器件的性能表征需求。扩频后，系统可精准，完成波导器件的S参数测量与校准，充分满足5G毫米波，卫星通信、雷达等高频应用从研发到验收全阶段的严苛测试需求

在光电测试中，VNA7000承担的是电域S参数测量平台的角色。E/O、O/E转换的频响，需要配接O/E校准模块，把光域信号转换回电域后进入VNA 接收机，二者共同构成光电频响测试系统。系统建立后，S21同时测量幅度和相位，3dB带宽由频响曲线提取，群延迟由相位曲线导出。测量结果要落到器件本身，靠的是O/E参考校准模块把参考面追溯至标准探测器，再用去嵌入剥掉夹具与适配网络的影响。扩展到110GHz，为更高速率的光电器件留出余量。

高速数字设计的信号完整性问题随数据率提升愈加严苛，信号迹线的每英寸插入损耗成为关键指标。VNA7000系列可测量PCB传输线的插入损耗、回波损耗和阻抗特性，支持时域分析功能用于定位走线中的阻抗不连续点。无论是高频板材的介电特性表征，还是高速背板互连结构的信号完整性验证，VNA7000系列都能适配研发与生产阶段使用。

数据中心1.6T互联已迈入224G PAM4时代，单通道基频逼近56 GHz，线缆上任何细微的阻抗起伏都会直接影响误码率，这对多端口射频器件与毫米波精密测量提出了更高要求；VNA7000矢量网络分析仪以10 MHz～67GHz连续扫频、135 dB大动态范围和差分四端口架构为基础，可高效完成插入损耗、回波损耗、TDR阻抗、近端/远端串扰及传播偏斜等参数表征，减少重复端口切换与测试配置时间，并通过时域门（Time Gating）与夹具去嵌入功能精准剥离连接器与转接头影响，还原铜缆、差分对及背板连接器的真实性能；在此基础上，凭借DDS架构的极速扫描以及配套开关矩阵，VNA7000可进一步缩短测试节拍、提升产线吞吐量与生产效率，有效兼顾研发深度验证与产线高效全检，满足1.6T高速互联、数据中心及多被测件的毫米波精密测量需求。

S参数测量

2 端口机型支持 S11、S21、S12、S22 测量；4 端口机型支持完整的 16 项 S 参数测量。

支持绝对功率测量，2 端口机型提供 8 种测量模式，4 端口机型提供 32 种测量模式。

参数格式

支持直角坐标、极坐标图和史密斯图，提供对数幅度、相位、群延迟、线性幅度、SWR、实部、虚部及阻抗幅度等格式。

全面校准

支持开路、短路、直通响应校准、增强响应校准、1 端口校准及全 2 端口校准。

4 端口机型还支持全 3 端口、全 4 端口校准，支持多种标准校准件。

夹具仿真器支持网络去嵌入、端口参考阻抗转换、匹配电路嵌入、4 端口网络嵌入及去嵌入、端口延伸。

平衡设备评估支持 SE-Bal、Bal-Bal、SE-SE-Bal 、Bal 布局

支持差动端口阻抗转换、共模端口阻抗转换及差动匹配电路嵌入。

每条迹线提供 16 个光标和 1 个参考光标。

支持最大值、最小值、目标值、峰值和带宽搜索。

支持带宽测试、极限测试和纹波测试。

支持带通、低通两种类型的时域变换。