动态范围＞138dB（5MHz~6GHz）；

满足从高端研发、滤波器带外抑制测量到航天级元器件测试的严格要求；

同时胜任超低损耗材料表征与精密时域分析，为前沿领域提供极致的测试余量与精度。

具备多窗口、多迹线、多种数据显示的灵活配置能力、全方位呈现S参数；

丰富的显示模式与灵活的视图布局，大幅提升多参数对比与数据分析效率。

配备专业触发保持功能，单次测量完成后自动进入保持状态，严格等待下一次触发指令；

确保开关矩阵、天线阵列、功放等被测件状态切换严格同步，彻底消除时序错配带来的测量误差，是高可靠性自动化测试系统的核心基石。

集成夹具仿真、时域测试、极限测试、纹波测试、带宽限制、结构回损、滤波器分析、多波段天线分析等丰富功能；

化繁为简，在一台仪器上实现对器件全方位的深度分析，全面满足从滤波器调试到多波段天线设计的严苛研发需求。

Marker统计功能，平坦度功能，耦合功能，转移功能等；

最多可显示16个光标(含每条迹线上的参考光标)；

每个光标均提供激励值与响应值，史密斯图和极坐标图各有两个光标响应值；

可实现多点测量、参数对比与数据统计，极大提升滤波器调试、天线匹配等应用中的分析效率与测量精度。

内置大容量内存，支持将测量迹线、光标数据及仪器状态完整存入内部存储器；

可存储多组数据并随时调用显示；

支持当前迹线与历史迹线的叠加对比，快速实现当前测量与历史数据的比对分析；

有效支撑长期稳定性监测、调试过程追踪与器件老化研究。